Měřicí Senzory | ZX2 | Omron, Česká republika

Vysoká přesnost a stabilita měření za dostupnou cenu. Nový snímač ZX2 pro laserové měření nabízí nejlepší výkon ve své třídě z hlediska přesnosti a rychlosti pro všechny aplikace lineárního posunu. Využívá pokročilý obrazový snímač HSDR-CMOS a umožňuje dosahovat vysoké stability měření, a to i u těch nejnáročnějších povrchů.

Nastavení jedním dotykem
Přesnost: 1,5–5 µm
Jakýkoli povrch
Vysoká rychlost: 30 µs

Find this product in another country

Pošlete mi cenu

Kontaktujte nás

Vlastnosti

Specifikace & informace pro objednání

Stahování dokumentace

Obrazový snímač HSDR CMOS Snadné nastavení Aplikace

Laserový snímač ZX2 využívá nově vyvinutý obrazový snímač High Speed & Dynamic Range (HSDR) CMOS. To poskytuje stabilní měření na libovolném povrchu bez ztráty přesnosti – od povrchů vysoce absorbujících až po povrchy intenzivně odrážející přijaté světlo. Snímač ZX2 nepřetržitě monitoruje úroveň přijatého světla a kompenzuje zjištěné hodnoty úpravou výstupu laserové diody – to vše s dobou cyklu 60 μs.

Snadné nastavení snímače ZX2 Snímač ZX2 eliminuje potřebu složitých nastavení a zdlouhavého nastavování parametrů. K dispozici je inteligentní tlačítko, pomocí kterého lze snímač nakonfigurovat nadefinováním typu povrchu pro měření.

Jeden typ povrchu
Více typů povrchů
Povrchy intenzivně odrážející světlo

Všechna ostatní nastavení jsou automaticky nakonfigurována podle tohoto nastavení.

Aplikace pro detekci zdvojení materiálu

Díky vysoké přesnosti měření a schopnosti vyrovnat se s různými typy povrchů lze snímače ZX2 využívat pro detekci zdvojení materiálu.

Aplikace pro určení referenční polohy

Přesné lineární měření lze provádět ve vysoké rychlosti, což umožňuje využití snímačů ZX2 pro vysokorychlostní aplikace k určení referenční polohy.

Aplikace pro měření tloušťky

Snímač ZX2 umožňuje snadno měřit tloušťku pomocí kalkulační jednotky. Přesného měření tloušťky je možné dosáhnout i u velmi lesklých povrchů.

Měření zkřivení

Pomocí několika jednotek ZX2 je možné zjišťovat deformaci nebo odklon komponent. Stabilního měření lze dosáhnout i v případě, že se liší teplota nebo povrch měření.

Specifikace Informace pro objednání