Kontrola hraje při výrobě polovodičů zásadní roli, protože zajišťuje kvalitu a spolehlivost propojení čipu s podkladem, předchází vadám, zvyšuje objem produkce a zajišťuje celkový výkon elektronických zařízení. Naše kontrolní řešení podporují bezproblémový chod výrobní linky.
Aplikace: automatická interní kontrola čipů
S rychlým vývojem balení čipů je struktura polovodičových zařízení stále složitější. Potřeba zajistit kvalitu a spolehlivost propojení čipu s podkladem a zabránit vzniku vad vedla k rychlému nárůstu úrovně kontroly potřebné ke zlepšení objemu produkce.
Naše řešení: automatizovaný kontrolní systém
Poskytujeme kontrolní řešení pro 3D balení pro polovodičový průmysl. Můžeme automaticky a kvantitativně kontrolovat všechny velikosti hrbolků uvnitř polovodičových čipů bez nutnosti nedestruktivního testování nebo řezání defektů. S využitím rentgenové kontrolní technologie, kterou jsme vytvořili v odvětví SMT, reformujeme kontrolní proces v polovodičovém průmyslu a přispíváme k výraznému zvýšení hromadné výroby. Kromě toho poskytujeme řešení, která řeší problémy našich zákazníků nejen ve fázi hromadné výroby, ale také ve fázi výzkumu a počáteční výroby.
Naše kontrolní řešení mají silné stránky, jako je vysokorychlostní CT zobrazování, automatická kontrola, akumulace dat o kvalitě, monitorování v reálném čase a rychlá zpětná vazba o stavu před a po procesu. Umožňuje kontrolu všech dílů se sklonem k vadám, průběžný monitoring, který zajišťuje splnění výrobních požadavků, a odhalování abnormalit a jejich včasný sběr.
Podporující technologie
SPI | AOI | AXI
Společnost OMRON poskytuje celou řadu systémů SPI, AOI a AXI, které se snadno používají a nabízejí rychlé generování kontrolních programů.
Více informacíSouvisející produkty
Chcete se dozvědět víc?
Kontaktujte naše odborníky
Kontaktujte nás Kontrola čipů

Děkujeme Vám za odeslání vašeho požádavku. Budeme Vás kontaktovat co nejdříve.
Objevili se technické potíže. Odeslání Vašeho formuláře nebylo úspěšné. Prosím přijměte naši omluvu a zkuste to znovu později. Podrobnosti: [detaily]
Download